FT型熱像儀核心及IR FPA測(cè)試系統(tǒng)：紅外焦平面陣列是熱成像系統(tǒng)最重要的核心部件。探測(cè)器電路（核心）的設(shè)計(jì)是熱成像系統(tǒng)的關(guān)鍵部分。因?yàn)榧t外焦平面陣列的參數(shù)決定了熱像儀系統(tǒng)的性能極限，紅外焦平面技術(shù)或熱像儀技術(shù)方面的專業(yè)人員必須精確地了解紅外焦平面陣列參數(shù)方面的知識(shí)。因此，測(cè)量紅外焦平面陣列性能的測(cè)量設(shè)備是研發(fā)紅外熱成像系統(tǒng)的關(guān)鍵。

產(chǎn)品廠地：上海市

更新時(shí)間：2026-01-05

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INFRAMET光電測(cè)試系統(tǒng)

光電測(cè)試系統(tǒng)

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超實(shí)用！熱成像光電測(cè)試系統(tǒng)正確使用方法大公開(kāi)

熱像儀測(cè)試系統(tǒng)的正確使用步驟分享

紅外熱像儀MTF測(cè)試是什么？該使用什么設(shè)備測(cè)試？

產(chǎn)品介紹

FT 測(cè)試系統(tǒng)的 FT-S 配置（光譜參數(shù)測(cè)量）

紅外焦平面陣列是熱成像系統(tǒng)最重要的核心部件，其參數(shù)直接決定了熱像儀系統(tǒng)的性能極限，因此FT 測(cè)試系統(tǒng)成為研發(fā)紅外熱成像系統(tǒng)的關(guān)鍵設(shè)備 —— 它能幫助專業(yè)人員精確掌握紅外焦平面陣列的參數(shù)特性。

FT 測(cè)試系統(tǒng)是一套完備的設(shè)備，通過(guò)產(chǎn)生精確控制時(shí)空分布的紅外輻射作用于紅外焦平面輸入平面，再對(duì)半自動(dòng)分析被測(cè)器件的輸出信號(hào)，從而完成對(duì)紅外焦平面陣列（或熱像儀核心）的性能表征。該系統(tǒng)可覆蓋熱像儀核心與紅外焦平面陣列的全維度參數(shù)測(cè)量（包括噪聲 / 靈敏度、成像質(zhì)量及光譜參數(shù)），適配 LWIR/MWIR 等不同光譜波段，兼容冷卻 / 非冷卻探測(cè)器，還能根據(jù)測(cè)試需求提供多版本配置，甚至支持完整熱像儀測(cè)試的超擴(kuò)展版本。

作為模塊化系統(tǒng)，F(xiàn)T 測(cè)量系統(tǒng)可快速拆分為三個(gè)半獨(dú)立工作站：

FT-N—— 負(fù)責(zé)噪聲和響應(yīng)參數(shù)測(cè)量；
FT-I—— 負(fù)責(zé)成像質(zhì)量參數(shù)測(cè)量；
FT-S—— 即本次介紹的光譜參數(shù)測(cè)量配置，是FT 測(cè)試系統(tǒng)針對(duì)紅外焦平面陣列光譜特性專項(xiàng)優(yōu)化的功能模塊。

上一個(gè)：Inframet TFEV測(cè)溫儀測(cè)試系統(tǒng)